Teljes Belső Visszaverődéses Fluoreszcencia Mikroszkóp (TIRFM)

A teljes belső visszaverődéses fluoreszcencia mikroszkópia (total internal reflection fluorescence microscopy) sejtmembrán, membránközeli sejtorganellumok, fedőlemezre kitapadó minták sepcifikus, nagy érzékenységű vizsgálatára alkalmas módszer. A nagy NA-val rendelkező objektívből a gerjesztő fény a határszögnél nagyobb szögben érkezik az üveg-víz (fedőlemez-minta) határfelületre, így ott teljes visszaverődést szenved. A visszaverődés helyén megjelenő, exponenciálisan lecsengő ún. evaneszcens mező azonban a minta határfelületéhez közel eső rétegben lévő festékeket gerjesztheti (~100-200 nm mélységig), de a minta belsőbb rétegeibe nem jut el. Így pl. a sejtmembránból specifikus fluoreszcencia jelet kaphatunk igen alacsony háttér mellett. A módszer a konfokális mikroszkópiáét jelentősen meghaladó érzékenységgel rendelkezik felületvizsgálati alkalmazásokban (ligandkötődés, internalizáció, membránfehérjék és lipidek vizsgálata, stb.).

A mikroszkóp 4 lézerrel van ellátva (405, 491, 561, 647 nm). Az Andor iXon 897 EMCCD kamerával 20 ms-onként lehet képet rögzíteni. A mikroszkóp optikai osztóval van ellátva, melynek segítségével egyidejűleg lehet spektrálisan szeparált (pl. zöld és vörös) képeket felvenni a kamera CCD chipjének két felén. A kamera érzékenysége egyedi festékmolekulák detektálását is lehetővé teszi. A vizsgálati rétegvastagság (az evaneszcens mező behatolási mélysége) automatikusan beállítható a beesési szög változtatásával mindegyik lézervonal esetén.

A mikroszkóp alkalmas szuperfeloldású (~20 nm) képek készítésére fotoaktiválható festékek alkalmazásával, a PALM, STORM, dSTORM technikkal.

Kapcsolat

Dr. Vámosi György

E-mail:

Tel.: +36 52 412 623 +36 52 412 623 (titkárság), +36 52 411 717 +36 52 411 717 / 66369-es mellék (közvetlen)

Updated: 2018.07.10.